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      1. NaioAFM原子力顯微鏡

        Nanosurf NaioAFM產品主要特點:緊湊、簡便、具性價比集科研、教學演示等多種功能于一體

        • 品牌:瑞士Nanosurf
        • 型號:NaioAFM

        Nanosurf NaioAFM 型原子力顯微鏡

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        小樣品或納米教學領域的領先優質的微型原子力顯微鏡

        ● 一體化的即插即用的微型原子力顯微鏡(AFM)
        ● 使用簡單,眾所周知
        ● 所有的標準操作模式都可用


        NaioAFM 是納米教學和小樣品基礎研究的理想原子力顯微鏡。 一體化的微型NaioAFM原子力顯微鏡提供了優質可靠的性能卻操作方便,價格親民,結構小巧,適合于任何人和任何場合。


        幾分鐘內就可以開始測量

        使用NaioAFM原子力顯微鏡, 僅需插上電源和USB線,啟動界面友好的軟件,幾分鐘內就可以開始工作,省掉了儀器設置的時間和麻煩,觀看我們的OVERVIEW 視頻你就可以知道。 因為NaioAFM帶有懸臂校準芯片,探針更換也變得更加簡單,繁瑣的激光調節也不再需要。 觀看懸臂更換視頻你就可以發現換針是如此的方便。


        NaioAFM 成像模式

        以下描述為儀器所具備的所有模式。某些模式可能需要其他組件或軟件選項。詳情請瀏覽宣傳冊或直接聯系我們。


        ●標準成像模式

        靜態力模式

        動態力模式(輕敲模式)

        相位成像模式


        ●磁性能

        磁力顯微


        ●電性能

        導電探針 AFM (C-AFM)

        靜電力顯微 (EFM)

        掃描擴散電阻顯微(SSRM)


        ●機械特性

        力譜

        力調制

        剛度和模量

        附著力

        力映射


        ●其它測量模式

        光刻和納米加工


        NaioAFM的應用示例

        聚合物混合物的 AFM 相位成像

        這是在 NaioAFM 上看到的聚合物混合物的 AFM 相位成像示例。聚合物混合物由沉積在硅上的聚苯乙烯(PS)和聚氯二苯乙烯(PB)組成。PS 在 PB 矩陣中形成孤島。

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        用AFM進行ePTFE膜表面形貌分析

        ePTFE是膨脹聚氟乙烯的縮寫,也稱為Teflon。它的機械和醫學特性很大程度上取決于Teflon是如何膨脹的(單軸或雙軸)以及由此產生的ePTFE網絡結構。 ePTFE由于其在人體內的惰性特性,常被用作植入材料。網狀結構中的空隙鼓勵軟組織生長到這樣的植入體中,這有助于快速地保持植入體的位置。聚四氟乙烯有許多不同的膨脹方式,都會導致不同的網絡結構。因此,至關重要的是要驗證在膨脹過程之后是否獲得了所需的ePTFE結構。


        1584345943926402.jpg圖片關鍵詞


        在此應用中,我們使用AFM對ePTFE膜進行了分析。所記錄的形貌圖像清楚地顯示了樣品復雜的網絡結構。利用集成在Nanosurf控制軟件中的測量工具,可以方便地分析纖維的長度和結的尺寸分布。與傳統的分析方法-掃描電鏡成像法SEM相比,金膜必須首先在真空中蒸發到 ePTFE 樣品上,使其導電才能進行操作 - 用AFM 則快得多,也更容易執行。使用AFM,可以直接在ePTFE上測量,無需事先對樣品進行處理。此外,與 SEM 數據相比,AFM 形貌圖實際上包含定量的深度信息。


        AFM 力譜儀用于聚合物分析

        裝有AFM的力譜儀可以對聚苯乙烯(PS)和聚丁二烯(PB)聚合物進行表征.數據分析或一組力距離曲線揭示了這兩種成分材料性能的差異。

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        PS-PB聚合物樣品的不同區域的力-距離曲線。 頂部和底部面板分別顯示 PB(頂部)和 PS(底部)上記錄的力距離曲線。中圖中的形貌圖像中的箭頭指示記錄力距離曲線的位置。如頂圖所示,可以從力距離曲線中提取不同的信息:接觸區域的斜率、樣品壓痕、最大附著力,以及分離所需的功。斜率本身是樣品剛度的粗略估計,即 PB 比 PS 軟得多,因為接觸區域的斜率較淺(參見紅色三角形)。使用接觸力學模型(如 DMT 模型)分析力距離曲線可顯示樣品的實際剛度。


        掃描頭 
        最大掃描范圍 / 掃描高度 (分辨率) (1)70 μm (1.0 nm) / 14 μm (0.2 nm)
        靜態 / 動態 RMS Z-噪音典型值 0.4 nm (最大 0.8 nm) / 典型值 0.3 nm (最大 0.8 nm)
        最大樣片尺寸 / 高度12 mm / 3.5 mm
        最大樣片臺定位范圍最大每個方向12 mm (從中心到四面 6 mm )
        頂視攝像頭3×3 mm FOV, 4× 數字變焦, 2 μm 光學分辨率, 2048×1536 像素, 軸內 LED 照明
        側視圖觀察5×5 mm FOV, 可變 LED 照明(可選側視圖攝像頭: 2×2 mm FOV, 1280×1024 像素)
        樣品趨近4 mm 線性馬達, 連續趨近或步進
        (1) 制造公差 ±10%


        掃描頭尺寸




        附加選項和組件

        側視攝像頭

        USB數碼側視攝像頭有1280 x 1024像素傳感器和2 x 2 mm 視野。此側視攝像頭裝在NaioAFM的頂部,在控制軟件上顯出側面視圖。 它可幫助用戶觀察在手動或自動趨近時微懸臂到樣片的距離。














        防震隔離臺 300

        用Nanosurf的防震隔離臺可實現無震動干擾的測量




        各種模式套件

        • 動態力模式盒

        • EFM模式盒

        • 力調制模式盒

        • 相位成像模式盒

        • 標準光刻模式盒

        • 標準MFM 模式盒

        • 標準光譜模式盒

        • 靜態力模式盒

        AFM 擴展樣片套件

        AFM 擴展樣品套件包括10個不同學科的樣本以及樣品處理工具。該工具包附有一份詳細的手冊,既可支持課程開發,也可用作每次測量的課堂指南。


        電話:

        13816692140

        傳真:

        021-55127698

        郵箱:

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        地址:

        上海市虹口區天寶路578號703室

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